晶圆生产的基础工艺
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13 2021-02-01 -
机器视觉在半导体中的应用晶圆检测
经过光刻的晶圆在检测后会发现大量的坏品,坏品通常是打上标志,如果是不完整的晶片也是属于坏品。 要求把良品检测出来,并把它的坐标位置与角度传送给运动机构,再由机械结构作出进一步的调整。CCD、镜头、光源
9 2020-10-28 -
满足晶圆级封装微型化的曝光设备
中图分类号:TN305.7 文献标识码:D 文章编号:1004-4507(2005)02-0073-03在过去的几年中人们已经有几次预言由于受到物理限制单个晶片的尺寸不可能再缩小,但实际上芯片的尺寸还
16 2020-12-12 -
电子测量中的晶圆測試機架構
1. Controller 2. Pin Electronic Card 3. Timing Generator 4. Precision Measurement Unit 5. Pattern Me
15 2020-12-13 -
晶圆缺陷检测与分类的卷积神经网络
晶圆缺陷检测与分类的卷积神经网络;针对晶圆检验时扫描电镜图像的缺陷检测和缺陷分类两问题,采用了“ZFNet”的卷积神经网络来分类晶圆缺陷,并基于该分类器实现了一种“基于块的卷积神经网络”缺陷检测算法。
42 2019-09-24 -
用于扇出型晶圆级封装的铜电沉积
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10 2021-01-31 -
晶圆级商业化生产的TSV RDL在线故障诊断系统和测试方法的研究
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3 2021-04-01 -
圆晶级CSP组装及其可靠性
Wafer level CSPMichael Meilunas, Parvez Patel(1.Universal Instruments Corp., Binghamton, NY; 2.Motor
7 2020-12-31 -
FormFactor发布Harmony晶圆级预烧探针卡
FormFactor发表Harmony全区12寸晶圆针测解决方案的最新成员——Harmony晶圆级预烧(Wafer-Level Burn-In,WLBI)探针卡。 Harmony WLBI探针卡能提高
6 2020-12-21 -
半导体晶圆代工行业报告
从台积电披露的年报业绩数据可以看到的是,从 1991 年开始的信息显示,台积电保持了在 年度收入方面持续的快速成长,在过去 29 年内,仅有 2001 年和 2009 年出现了下降的情况。盈 利能力方
26 2021-05-10
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