半导体失效是指半导体器件在长时间使用或特定条件下出现性能降低或不可用的情况。半导体失效的模式可以分为电学失效、热失效和机械失效等。电学失效包括击穿、漏电、过流等现象，热失效涉及到温度过高造成的器件性能降低和损坏，机械失效涉及到组装不良、应力过大等因素引起的器件损坏。了解半导体失效的模式和机理对于半导体器件的设计和应用具有重要意义。