NMOS器件热载流子效应非线性退化加速寿命实验研究 ,王祺,程秀兰,本文报告了Vg=Vd应力模式下NMOS器件受热载流子效应影响的实验。在实验中,饱和电流呈非线性退化,通过实验数据分析了潜在的退化机制