该资源为电子信息工程、通信工程、微电子学等相关专业的本科生和研究生以及从事半导体器件测试研究的工程师和技术人员提供了GaN HEMT器件测试的详细方法与技术解析。主要包括GaN HEMT器件测试的关键参数、测试仪器的使用方法，以及GaN HEMT器件的特点、优势及在实际应用中的作用介绍。该资源既可作为教学实验的参考资料，也可作为工程师和技术人员进行GaN HEMT器件测试的参考资料，可以大幅提高实验和技术能力。