引言:无铅PCB的出现对在电路测试(ICT)提出了新的问题,本文描述了现有的PCB表面处理工艺,并分析了这些工艺对ICT的影响,指出影响ICT的关键是探针与测试点间的接触可靠性,并介绍了为满足ICT的要求在PCB构建过程中需要做出的特定改变。 图1:用户采用了一套推荐的OSP规则集,但是依然发现对一次通过的良率有12%的影响。一直以来,测试工程师主要关注的是确保他有一个有效的测试程序,该程序能在生产中很好地执行。“在电路测试(ICT)”依然是一种检测制造缺陷的非常有效的方法。更先进的ICT系统还能在测试时,通过提供对Flash存储器、PLD、FPGA和EEPROM编程的方法,在测试功能